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致茂Chroma 3260自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī) 可靠的高速Pick&Place分類(lèi)機(jī) 同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì) 具備處理QFP的能力 簡(jiǎn)易編輯通訊定義（ECD）功能 無(wú)測(cè)試座損壞的問(wèn)題 浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力

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致茂Chroma 3240-Q無(wú)線射頻分類(lèi)機(jī) 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔離室和整合Tester安裝 可調(diào)整測(cè)試間距至120mm 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn) 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm 精確的定位能力 支援JEDEC和EIA料盤(pán)

致茂Chroma 3180八站邏輯測(cè)試分類(lèi)機(jī) 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn) 9Kpcs 產(chǎn)能 彈性的多測(cè)點(diǎn)架構(gòu) 減輕壓測(cè)力 自動(dòng)壓測(cè)力學(xué)習(xí) 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm 溫度測(cè)試范圍從常溫到高溫150 ℃ 連續(xù)自動(dòng)重測(cè)功能

Chroma 3160C 三溫四站終端測(cè)試分類(lèi)機(jī) *溫控技術(shù) （Nitro-TEC 氮?dú)鉁囟瓤刂破鳎? 更快的 index time （0.6 sec） 主動(dòng)式溫度控制并且提供更全面的測(cè)試溫度區(qū)間 Chamber Less的設(shè)計(jì) 支持更多樣化測(cè)試sites的選擇 （1/2/4 sites） 更簡(jiǎn)單快速的更換kit